XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動平臺實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移，實(shí)現(xiàn)無人值守多點(diǎn)測量，測量軟件置入*的EFP算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。

產(chǎn)品型號：XAD-200

更新時(shí)間：2025-09-03

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

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物理特性分析儀器

表面張力儀測厚儀膜厚儀試驗(yàn)機(jī) 硬度計(jì) 恒溫恒濕高溫真空接觸角測量儀布氏硬度計(jì) 大平臺型接觸角測試儀高溫真空型接觸角測量儀接觸角便攜式接觸角測試儀全自動接觸角測量儀潤濕性能接觸角測量儀手動接觸角測量儀自動型接觸角測量儀親水性接觸角測量儀

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產(chǎn)品介紹

XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動平臺實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移，實(shí)現(xiàn)無人值守多點(diǎn)測量，測量軟件置入*的EFP算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

1）搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，最小測量面積達(dá)0.03mm2

2）擁有無損變焦檢測技術(shù)，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm

3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準(zhǔn)檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）

4）配備全自動可編程移動平臺，可實(shí)現(xiàn)無人值守，對成百上千個(gè)樣品進(jìn)行全自動檢測

5）涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）

6）成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）

7）RoHS、鹵素有害元素檢測

8）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

9）標(biāo)配四準(zhǔn)直器自動切換

10）配有微光聚集技術(shù)，最近測距光斑擴(kuò)散度小于10%

上一個(gè)：SDC-200上海半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室接觸角測量儀